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贵金属检测仪ux210

简要描述:仪器简介: ux210型x荧光光谱仪,主要用于rohs指令限定的6种有害物质,铅Pb、汞Hg、镉Cd、六价铬Cr、溴Br的准确检测,是各电子电器生产商应对rohs指令*检测工具;此外ux210型x荧光光谱仪还可以测试K-U之间的其它元素以及镀层厚度的检测。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-07-12
  • 访  问  量:1479

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仪器简介:
ux210型x荧光光谱仪,主要用于rohs指令限定的6种有害物质,铅Pb、汞Hg、镉Cd、六价铬Cr、溴Br的准确检测,是各电子电器生产商应对rohs指令*检测工具;此外ux210型x荧光光谱仪还可以测试K-U之间的其它元素以及镀层厚度的检测。

技术参数:
仪器尺寸:640(w)×474(d)×412(h)mm
样品腔尺寸:小样品腔-300(w)×300(d)×100(h)mm
                  大样品腔-无限制,小于30公斤
重量:48kg
工作环境:15-30摄氏度;相对湿度≤85%
可分析的元素范围:元素周期表从19号钾K至92号铀U
zui低检测下限:≤2ppm
测试时间:200-300s
探测器*分辨率:149±5ev
电源:AC220V±10%,50Hz 800W

标准配置:
探测器:Amptek 100CR
MCA多道脉冲处理器:自主研发制造
高压电源:Spellman MNX50P50
x光管:丹东X光管Mo靶
分析软件:ux210主用版V6.0

选配件:
多元素分析软件
镀层厚度分析软件
六价铬测试仪
光路优化系统(可测试卤素氯、zui低检出限≤300PPM)

特点:
成熟的经典分析方法
凭借国家“七·五”“九·五”科技攻关计划之科技成果,集成近二十五年分析测试应用经验的经典数学分析模型,为测试者提供可靠、精准、稳定的分析结果。

强大的软件功能
高度智能化设计使操作更加简便,轻松成为测试专家。
可根据测试情况,自动设定各操作单元动作及相关技术参数。既保证了相关器件的寿命,避免了人为操作误差。
全自动高精度背景拟合、多元回归等解谱方法的应用,使复杂材质的检测更加准确、便捷。
特别预置的谱图对比功能,很方便的实现历史谱图与被测谱图的对比,利于对数据变化材质的精确分析,进一步提高企业的风险应对水平。
简单、迅速的数据管理与报告输出格式,方便用户进行相关的数据管理与报告输出。
开放性工作曲线
用户可很方便的根据自身材质状况,建立风险材料的工作曲线,全面提高工作曲线与被测材料的对应性。从而大幅度提升风险物质的检测精度。      
 
严谨的硬件集成与结构设计
对可能影响整机精确度及稳定性的核心器件,全部采用进口原厂器件。
模块化设计与组件选择,确保了整机性能的稳定性与未来服务的操作简便性。
特别设计的原级、二次滤光系统,既保证了对有害元素的激发效率,同时全面降低了作为干扰因素的背景强度,充分提高峰背比,大幅度降低检出下限。
业界的全射线三重防护系统(软件防护、硬件防护、迷宫式结构),根本上避免了故障、误操作等可能的辐射伤害。确保了机器操作过程中,仪器环境辐射量低于环境本底值。

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